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Microscopía Infrarroja

Caracterización Detallada de Microestructuras y Defectos

La microscopía infrarroja y los sistemas FT-IR/FT-NIR ofrecen una solución avanzada para la caracterización de materiales en laboratorios. Permiten identificar automáticamente impurezas y recolectar espectros para un análisis rápido, siendo accesibles para todo tipo de usuarios. Su versatilidad es clave en sectores como polímeros, farmacéutica, biomedicina, ciencia forense y monitoreo ambiental.

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Categorías: , Product ID: 2014

Descripción

Sistema de Imágenes Spotlight 400N FT-NIR 

Tecnología de automatización inteligente y velocidad extrema para escaneos de alta resolución.

  • Rendimiento ante Altas Demandas: Diseñado con tecnología de vanguardia y automatización inteligente para generar datos reproducibles y de alta calidad en laboratorios con volúmenes de muestras crecientes.
  • Excitación y Rapidez de Imagen: Combina una alta sensibilidad con funciones avanzadas de facilidad de uso, lo que permite mapear grandes áreas de muestra rápidamente y con una alta resolución espacial.
  • Relación Señal/Ruido Excepcional: Las imágenes espectrales se recolectan a altas velocidades manteniendo una extraordinaria relación señal-ruido.
  • Flexibilidad Farmacéutica Avanzada: Incorpora un detector único de InGaAs enfriado termoeléctricamente (TE) para NIR que proporciona una calidad de imagen óptima y permite una operación extendida y desatendida para múltiples muestras. Facilita un análisis profundo de la distribución de ingredientes en dosis sólidas mediante reflectancia directa NIR.

 

 

 

 

Sistemas de Microscopía Spotlight 200i FT-IR

Análisis de precisión dimensional hasta el límite de difracción para muestras extremadamente pequeñas.

  • Exploración de Micro-áreas: Permite el análisis y la obtención de espectros de calidad en áreas de interés sumamente pequeñas, llegando hacia abajo hasta el límite de difracción de 10 micras.
  • Detector de Alto Desempeño: Su diseño exclusivo de detector ofrece relaciones señal-ruido superiores y un amplio rango espectral para extraer la mayor cantidad de información en el menor tiempo posible.
  • Ahorro de Tiempo en Ensayos: Utiliza herramientas avanzadas de detección de características y rutinas de software para la localización automática de regiones de interés, reduciendo drásticamente el tiempo de análisis en empaques y laminados.
  • Plataforma Escalable: El sistema está estructurado con la flexibilidad necesaria para ser fácilmente actualizado a capacidades completas de imágenes FT-IR.

 

 

 

 

Sistema de Imágenes Spotlight 400 FT-IR

Solución de espectroscopía e imágenes multimodales para la resolución de problemas de calidad.

  • Múltiples Modos de Muestreo: Permite alternar con facilidad entre diferentes modos de operación como transmisión estándar, reflexión, e imágenes de reflexión total atenuada (ATR) en un solo experimento.
  • Análisis Automatizado de Partículas: Capaz de realizar tanto análisis automatizados de partículas individuales como imágenes IR completas, permitiendo identificar y caracterizar de manera rutinaria muestras como microplásticos de hasta 10 micras o menos.
  • Imágenes ATR de Alta Resolución: Utiliza un elemento ATR de germanio con alto índice de refracción que revela la distribución de componentes con excepcional claridad, identificando partículas de menos de cinco micras de diámetro a partir de sus espectros IR.
  • Trazabilidad y Cumplimiento: Operado mediante un software sofisticado que automatiza desde la configuración del equipo hasta la caracterización completa, cumpliendo estrictamente con la normativa 21 CFR Parte 11.
  • Mapeo de Rango Extendido: Ofrece la opción de realizar capturas de imágenes a longitudes de onda largas inferiores a 600 cm-1, una función invaluable para el mapeo y caracterización de materiales inorgánicos.

 

 

 

 

Spotlight Aurora FTIR Microscope

Automatización avanzada e imágenes HD para la identificación rápida de muestras desconocidas.

  • Exploración en Minutos: Reduce la investigación de muestras de horas a minutos mediante información rápida y reproducible, ideal para control de calidad (QA/QC) y análisis de fallas.
  • Muestras Irregulares: Incorpora imágenes de alta definición de campo amplio (widefield), corrección adaptativa y ajuste de profundidad para explorar visualmente muestras complejas sin adivinanzas.
  • Reducción de Tiempo del 90%: Disminuye el tiempo de respuesta hasta en un 90% gracias a sus modos de inspección rápidos y al reconocimiento automatizado de contaminantes.
  • Ahorro Operativo Anual: Su automatización con flujos guiados y carga automática permite ahorrar hasta 1,139 horas o 57,000 anuales al asegurar análisis consistentes independientes del operador.
  • Cumplimiento sin Distorsión: Realiza mediciones de ATR de alta sensibilidad libres de distorsión y cuenta con herramientas de validación para mitigar el riesgo de liberar productos no conformes.
  • Diseño y Configuración: Con un peso de 48.5 kg y una huella compacta (43 cm de ancho por 67 cm de profundidad), ofrece total flexibilidad para actualizarse al modelo avanzado de imágenes Aurora-I.

 

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